紫外分光光度計的系統(tǒng)組成原理
發(fā)布日期:2017-06-15 瀏覽次數(shù):1509
紫外分光光度計按儀器工作原理的不同,有單光束分光光度計和雙光束分光光度計之分。為滿足紫外-真空紫外光學元件本體光譜傳輸特性測試的需要,并考慮到光學元件工作于紫外-真空紫外波段,為保證系統(tǒng)具有較高的信噪比,設計了一種紫外分光光度計,可以對直徑小于200mm的紫外-真空紫外光學元件本體進行光譜傳輸特性測試,工作波段115~400nm,光譜分辨力0.5nm。
紫外分光光度計的系統(tǒng)組成原理:
紫外分光光度計由150w氘燈輻射源、前置超環(huán)面聚光鏡、紫外-真空紫外單色儀、后置反射光學系統(tǒng)、光學調(diào)制器、樣品/探測器轉(zhuǎn)臺、光電倍增管探測器、高壓電源、鎖相放大器、樣品/探測器轉(zhuǎn)臺掃描控制器、波長掃描控制器、數(shù)據(jù)采集器及計算機控制系統(tǒng)組成,結構如圖1所示。前置超環(huán)面聚光鏡將氘燈光源成像于紫外-真空紫外單色儀的入射狹縫,從單色儀出射狹縫出射的光經(jīng)后置反射光學系統(tǒng)準直,照射到樣品。探測器圍繞樣品旋轉(zhuǎn)并測量,測量入射光直接照射探測器及經(jīng)樣品透射或反射后照射探測器的輸出信號,可給出樣品的光譜透射率、光譜反射率、光譜漫反射率及光柵效率等。單色儀波長掃描、樣品/探測器掃描和數(shù)據(jù)采集處理在計算機控制下進行。在光路中加入起偏器,可進行光學元件光譜偏振特性測試。引入光學調(diào)制器進行光學斬波-鎖相放大,有利于提高電子學系統(tǒng)信噪比。鎖相放大器通過ieee-488接口與機算機相接,便于數(shù)據(jù)采集處理。